任何類型的探測系統的性能特點都會受到使用者所采取的測量流程的影響。例如，儀器的動態誤差取決于探測方向、探測速度、距離以及加速度值等特性。

以下所列的參數是根據它們能對使用觸發式測頭的三坐標測量機的影響的參數。

1、探針軸的長度

2、探針軸的橫截面積

3、逼近表面的距離

4、逼近表面的速度

5、逼近表面的方向

6、探針軸的安裝

7、工件的方向

8、工件的位置

9、測量時的探測力

10、測頭中返程彈簧的壓力

11、探針軸的機械性能

12、探針尖部的形狀（球面）

13、接觸條件（特別是污垢）

在進行表里圓弧測量時，挪用測圓功用后須先給定一個理論圓弧直徑，然后進行若干采點，系統便主動核算出圓弧的中間坐標。若沒有該測量功用，則可采用下列辦法做近似測量，江蘇三坐標測量儀，為簡化操作和核算，亦可自行編制一個小挨次。其操作辦法是，在進行該測量時須先以PICK（不帶測頭半徑賠償）的方法在圓弧兩頭點處各采一點，挨次用其連線樹立新的零件參考系*2軸，并平移原點至兩點中點上。隨之挨次便以CNC方法過中點進行法向采樣，三坐標測量儀廠家直銷，帶測頭半徑賠償的圓弧點坐標便取得了，因為這個點正處在坐標軸線上，所以，經由給定理論圓弧半徑便可便利地求出那時坐標系圓弧中間坐標，而圓弧的理論中間坐標只需轉換到原坐標系就行了。

接觸式三坐標測量的主要缺點有：

(1) 為了確定測量基準點需使用特殊的夾具，這會導致較高的測量費用。不同形狀的產品會造成原來的夾具不適用而使成本增加。

(2) 球形測頭容易因接觸力造成磨損，所以，為了維持一定的精度，需要經常校正球形測頭的直徑。

(3) 不當的操作容易損害被測件某些重要部位的表面精度，也會使測頭損壞。

(4) 接觸式觸發測頭是以逐點進出方式進行測量的，所以測量速度慢。

(5) 檢測一些內部元件有先天的限制，如測量內圓直徑，觸發測頭的直徑必定要小于被測內圓直徑，被測件內部不易測量處是測量的死角。

(6) 對三維曲面的測量，三坐標測量儀供應，因傳統觸發式測頭是感應元件，測量到的點是測頭的球心位置，故欲求得物體真實外形則需要對調頭半徑進行補償，因而可能會導致修正誤差的問題。計算比較繁瑣，同時這也是測量誤差的來源之一。

(7) 接觸測頭在測量時，測頭的接觸力將使測頭尖部分與被測件之間發生局部變形而影響測量值的實際讀數。

(8) 測量系統的支撐結構存在靜態及動態誤差。

(9) 由于測頭觸發機構的慣性及時間延遲而使測頭產生追趕(Overshoot)現象，三坐標測量儀供應商，趨近速度會產生動態誤差。

(10) 因為接觸面積與被測件表面的幾何形狀有關，即使測量接觸力保持一定，測量壓力并不能**一定。

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