安博(Anbotek)先后獲得下列*機構(gòu)授權(quán)：中國地區(qū)實驗室認(rèn)可（CNAS.NO.L3503）、加拿大IC, 美國聯(lián)邦通訊**（FCC）、德國TUV/南德、德國TUV/萊茵、美國保險商實驗室（UL）、日本VCCI等，實驗室符合ISO/IEC17025全部要求,認(rèn)證范圍幾乎涵蓋**,客戶*分別聯(lián)絡(luò)相應(yīng)實驗室對產(chǎn)品進行分別認(rèn)證，安博檢測可根據(jù)廠商的實際要求，幫助廠商一次完成所有報告及認(rèn)證，避免重復(fù)測試；
Anbotek實驗室簡介 安博檢測實驗室(Anbotek)位于深圳南山區(qū)前海中心區(qū)，專門從事電子電器產(chǎn)品的電磁兼容和*的檢測及認(rèn)證服務(wù)，是經(jīng)**認(rèn)可的獨立的第三方認(rèn)證機構(gòu)；
安博檢測以其精良的設(shè)備、**的技術(shù)及高效快捷的服務(wù)深受廣大廠家信賴。同時，安博檢測與許多***廠商，如SONY大陸OEM廠、三星SAMSUNG大陸廠、華為OEM工廠、帝聞DEEVAN、冠德科技、臺達(dá)、創(chuàng)維SKYWORTH、惠州雷士照片、德賽、比亞迪、中興通訊（ZTE）、眾漢科技（FSP）、瑞谷科技、, 惠科（九州陽光）、航嘉、桑達(dá)百利, 科士達(dá)、信瑞電子、核達(dá)中遠(yuǎn)通、國耀電子、廈門科華、中山圣馬丁、理丹等，建立了長期良好的合作關(guān)系。目前，安博檢測已成為中國檢測儀器較**完備、技術(shù)力量較雄厚的**通行的第三方檢測及認(rèn)證實驗室之一；

安博檢測(Anbotek)EMC實驗室,擁有2000m2 多的實驗場地，建有二間標(biāo)準(zhǔn)的3m法半電波暗室和全電波暗室，符合CISPR16-1、ANSI C63.4)、多間屏蔽室、抗干擾實驗室及多間安規(guī)實驗室，檢測設(shè)備**精良均由德國R&S、瑞士 HAEFELY、美國CI、日本等公司制造；
LM-80-15介紹
在正常的工作電流和工作條件下，LED一般具有很長的工作壽命，可能在50000小時或更長，在整個壽命過程中，光輸出慢慢衰減。光譜可能發(fā)生偏移，導(dǎo)致顏色和光效的失效。
2015年6月26日，IESNA北美照明工程協(xié)會(Illuminating EngineeringSociety of North America) 和ANSI 美國地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(American National Standards Institute)聯(lián)合頒布ANSI/IESLM-80-15 IES Approved Method: Measuring Luminous Flux and Color Maintenance ofLED packages, Arrays and Modules.即: LED封裝，陣列，模塊的光通量和顏色的維持測試方法。此方法可以接受AC 恒壓、DC恒壓、PWM等LED封裝、陣列、模塊光學(xué)器件做LM-80測試和*。
LED通常具備很長的使用壽命特性，且依靠驅(qū)動電流和使用條件可以使用50000小時或者更久。與所有光源一樣，LED發(fā)出的光輸出隨著輸出時間會慢慢減弱。與傳統(tǒng)光源不同的是，LED不會**失效。因此，隨著時間的變化，流明維護率會導(dǎo)致更慢的光輸出，而非規(guī)格中預(yù)期的或者規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范或規(guī)則中要求的情況。
隨著時間的變化，LED發(fā)出的光譜也會逐漸變化，這會導(dǎo)致不可接受的外觀或顯色性。這些變化可能影響流明維護率，這主要是由于變化的光譜能量分布所引起的光輸出變化的作用。
LED光源的性能通常受變量的影響，比如操作周期、外部設(shè)備與裝置產(chǎn)生的條件、環(huán)境溫度、氣流以及方位。當(dāng)多個實驗室進行測試時，測試條件與程序的設(shè)計應(yīng)可提供參照結(jié)果。**使用該認(rèn)定方法也旨在此目的。
標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了:
1. 測試環(huán)境條件
Ta、Ts、Humldity、Air Temperature、Air Movemen、Temperature、Measurement Equipment or System。
標(biāo)準(zhǔn)對Ts點和Ta點的溫度控制要求，Ts溫度要求大于等于標(biāo)稱溫度Ts減2℃，同時環(huán)境溫度Ta要求大于等于Ta減5℃，表述了不同的Ts溫度監(jiān)控方法，較低的溫度監(jiān)控點作為典型的監(jiān)控點，同時要求報告中**體現(xiàn)Ts溫度監(jiān)控點位置。
2. Ts溫度點的數(shù)量要求
一般要求較少兩個溫度，具體考慮光源的使用環(huán)境。至少包含兩個溫度中(55℃和85℃)的一個。
3. 數(shù)據(jù)采集時間
至少每隔1000H收集測試數(shù)據(jù)，測試時間不少于6000H。
4. 光通量(流明)維持率
任意運行時間的輸出光通量與原始光通量數(shù)據(jù)的比值百分比。
5. 額定流明維持壽命
*流明維持率百分比達(dá)到的時間。
TM-21介紹
TM-21 Projecting LongTerm Lumen Maintenance of LED Light Sources，即光源長期流明維持率的預(yù)測。
LED光源的好處之一就是使用壽命長。其和其他照明技術(shù)不同，在使用過程中通常不會突然失效。然而，隨著時間的推移，光輸出也會逐漸衰減。在某一時間點，LED發(fā)出的光衰減至某一水平而不再被認(rèn)為達(dá)到了足夠的應(yīng)用要求。對于照明設(shè)計而言，理解LED光源何時達(dá)到“使用壽命”非常重要。
IES LM-80是用于測量LED光源流明維持率的方法。針對于LED陣列和模組，其定義了安裝、條件和流明維持率的測試流程。LM-80是IES**的方法，并被廣泛用于描述LED光衰特性。LED器件生產(chǎn)廠家提供的LM-80日常測試報告采用的數(shù)據(jù)都來自于持續(xù)測試6000小時或更多時間內(nèi)的測試數(shù)據(jù)。然而，對于被測產(chǎn)品，LM-80并沒有很好的定義對于收集到的數(shù)據(jù)，如何被實際用于確定LED的有效壽命。
額定流明維持壽命是指LED光源的光輸出相對于初始光輸出達(dá)到某一給定百分比所經(jīng)過的運行時間。這個值被定義為Lp，p即百分比值。比如L70的含義是LED光輸出下降至初始光輸出的70%所經(jīng)過的時間。LED光源達(dá)到其額定流明維持壽命取決于很多變量，包括運行溫度、驅(qū)動電流、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的技術(shù)與材料。因此，產(chǎn)品流明維持率不僅僅是制造商之間不同，并且在同一生產(chǎn)廠家內(nèi)不同封裝型式的LED之間也不相同。
標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了:
1.額定流明維持壽命Lp，p標(biāo)示剩余流明與初始數(shù)據(jù)流明的百分比。
2.使用數(shù)據(jù):在本推算方法中所采用的數(shù)據(jù)按照IES LM-80所描述的方法采集數(shù)據(jù)。
3.樣品數(shù)量:樣品數(shù)量要求10pcs以上，分為10-19pcs，20pcs以上。
4.預(yù)測時間:10-19pcs不**過推算時間的5.5倍，20pcs不**過推算時間的6倍。即10-19pcs預(yù)測光通量時間只能推算5.5倍以內(nèi)預(yù)測時間壽命，20pcs預(yù)測光通量時間只能推算6倍以內(nèi)預(yù)測時間壽命。
5.壽命推算公式:由Φ(t)=βexp(-αt) 推導(dǎo)出壽命公式Lp= ln(100β/p)/α。
t=運行時間
Φ(t)=在時間t時的光通量輸出歸一化平均值。
β =由較小二乘曲線擬合派生出的推算初始化常數(shù)。
α=較小二乘曲線擬合派生出的衰減系數(shù)。
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)文件計算公式可以得出相關(guān)的數(shù)據(jù)。
6.某溫度的壽命推導(dǎo):用于較低值Ts1和較高值Ts2之間的溫度下的壽命推導(dǎo)。
計算案例
本文數(shù)據(jù)以同一方光電6V SMD 3030 LM-80測試數(shù)據(jù)為版本進行以下計算。
1Ts測試數(shù)據(jù)壽命推算
Tabel 3.1、3.4為LM-80測試數(shù)據(jù)，Ts1=85℃, Ts2=105℃
計算公式▼
y=mx+b①
m=(n∑xy-∑x∑y)/(n∑x2-(∑x)2)②
b=(∑y-m∑x)/n③
α=-m④
β=exp(b)⑤
n=Point #平均數(shù)據(jù)點⑥
Lp=ln(100β/p)α⑦
樣品的數(shù)量25pcs
根據(jù)上述公式進行計算結(jié)果如下表▼
以L70為計算壽命數(shù)據(jù)如下表▼
DLC 4.2 Premium L90為計算壽命數(shù)據(jù)如下表▼
根據(jù)Φ(t)=βexp(-αt)公式可以計算出不同時間的光衰數(shù)據(jù)▼
2某溫度的壽命推導(dǎo)
用于較低值Ts1和較高值Ts2之間的溫度下的壽命推導(dǎo)
以一款為6V SMD 3030 LM-80產(chǎn)品測試數(shù)據(jù)為例，數(shù)據(jù)為Ts=85℃以及Ts=105℃，進行Ts =100℃的壽命推導(dǎo)。
推導(dǎo)公式如下▼
溫度單位轉(zhuǎn)換為K
TS[K]=TS[℃]+27*I
由Arrhenius計算方程式
Φ1(t)=B0exp(-α1t)II
可以推導(dǎo)出現(xiàn)場光衰常數(shù)αi
αi=Aexp(-Ea/(KBTs.i)III
其中
A=指前因子
Ea=能量(電子eV)
Tsi=使用現(xiàn)場測試**溫度(K)
KB=伯茨曼常數(shù)(8.6173*10-5eV/K)
通過α1、α2和對應(yīng)溫度TS1和Ts2可以擬合出Ea
Ea/KB=(lnα1-lnα2)/(1/Ts.2-1/Ts.1)IV
從而計算出指前因子A
A=α1exp(Ea/(KBTs.1)V
上式可用a2、Ts2 替代a1、Ts1
通過B1:Ts1初始預(yù)測常數(shù); B2:Ts2 初始預(yù)測常數(shù)。
可計算出B0
B0=√(B1 B2)VI
利用上式計算出B0，針對現(xiàn)場外殼測試溫度Ts對應(yīng)的Lp,利用下面的公式計算出Ts對應(yīng)的流明維持率Tabel 1。
Lp=ln(100B0/P)/αVII
根據(jù)以上數(shù)據(jù)進行推導(dǎo)數(shù)據(jù)如下表▼
根據(jù)Φ1(t)=B0exp(-α1t) 可推算出Ts =100℃ 不同時間段的光通量維持率▼
結(jié)論:6V SMD 3030 Ts 85-100℃ L90>36000H，符合DLC 4.2

安博檢測已取得中國CNAS地區(qū)實驗室認(rèn)可（證書號L3503），并由此獲得**實驗室認(rèn)可組織（ILAC）的認(rèn)可，我們同時獲得地區(qū)認(rèn)監(jiān)委認(rèn)證批準(zhǔn)的中國計量認(rèn)證CMA（證書號2013192137Z）資質(zhì)，并獲得美國消費品***CPSC、FCC、UL、德國TUV-SüD，韓國KTC授權(quán)的標(biāo)準(zhǔn)化第三方實驗室。
依據(jù)ISO/IEC 17025運行的大型綜合第三方檢測機構(gòu)。檢測報告得到美國，英國，德國等71個地區(qū)和地區(qū)的認(rèn)可。具備向社會出具公正數(shù)據(jù)的資格，檢測報告具有**公信力。

-/gbadadc/-

安博檢測已經(jīng)有接近十年的檢測認(rèn)證經(jīng)驗，是一家非常**的檢測認(rèn)證服務(wù)公司。
我們的數(shù)據(jù)是和計量院做過對比的，數(shù)據(jù)非常**。
我們用良好且經(jīng)驗豐富的工程師團隊、準(zhǔn)確標(biāo)準(zhǔn)的測試儀器、****的實驗室配置、   
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安博提供的服務(wù)項目
CE*/報告簽發(fā)、產(chǎn)品*測試、性能測試、電磁兼容測試，整改以及認(rèn)證、ROSH原材料測試和報告整合、無線通訊認(rèn)證、產(chǎn)品目擊測試服務(wù)、機械產(chǎn)品現(xiàn)場測試、北美UL\CUL\,ETL,CSA,FCC,FDA認(rèn)證、其它CCC,CQC，CB,GS,FDA,C-tick，PSE,EK等各國認(rèn)證、各標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)咨詢和培訓(xùn)
安博安規(guī)認(rèn)證及檢測項目
歐洲市場：CE認(rèn)證，CE-LVD，GS認(rèn)證， TUV-mark認(rèn)證， CB認(rèn)證， Nordic(Nemko， Semko， 
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