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晶體管測量儀器是以通用電子測量儀器為技術基礎，以半導體器件為測量對象的電子儀器。用它可以測試晶體三極管（NPN型和PNP型）的共發射較、共基較電路的輸入特性、輸出特性；測試各種反向飽和電流和擊穿電壓，還可以測量場效管、穩壓管、二極管、單結晶體管、可控硅等器件的各種參數。

ST-SP 2005
晶體管測試儀
產品特點
?測試范圍廣（19大類，27分類）
?升級擴展性強，通過選件可提高電壓電流，和增加測試品種范圍。支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A
?采用脈沖測試法，脈沖寬度為美**規定的300us
?被測器件引腿接觸自動判斷功能，遇到器件接觸不良時系統自動停止測試, **被測器件不受損壞
?真正的動態跨導測試。（主流的直流方法測動態跨導 ，其結果與器件實際值偏差很大）
?系統故障在線判斷修復能力，便于應急處理排障
?二極管極性自動判別功能，*人工操作
?IV 曲線顯示 / 局部放大
程序保護電流/電壓,以防損壞
?品種繁多的曲線
?可編程的數據點對應
? 增加線性或對數
?可編程延遲時間可減少器件發熱
?保存和重新導入入口程序
?保存和導入之前捕獲圖象
?曲線數據直接導入到
?曲線程序和數據自動存入

晶體管參數測試儀的使用注意事項
在測量出二極管的反向擊穿bai電du壓時，被測二極管實際上已經被擊穿了，zhi但晶體管測試dao儀測量二極管的反向擊穿電壓或三極管的集電結反向擊穿電壓檔都在內部串;連了阻值很大的限流電阻，使擊穿后的反向電流很小，因此不會燒壞二極管。

泰克/TEKTRONIX 371買賣TEK371晶體管測試儀
深圳市金誠電子儀器有限公司
聯系人:李建強（經理）
地址：深圳市寶安區沙井街道寶安大道8206號創新商務園7樓703室
主要參數：·半導體器件高精度測量
-上限達2000V或電流到10A的源（370A）
-上限到3000V（371A）
-上限到220W（370A）
-上限到400A（371A）
-1nA的測量分辨率
-上限到3000W（371A）
·上限到2mV的測量分辨率（370A）
·波形對比
·包絡顯示
·波形平均
·點光標（370A）
·Kelvin傳感測量
·全程控
·MS-DOS兼容的軟盤，方便設置參孝存儲和調用
應用
手動或自動進行半導體高分辨率DC參數測量
來料檢查
生產測試
過程監視及質量控制
數據報告的生成
元件配對
失效分析
工程測試
交互式程
所有交互式程控測量是通過有鮮明特點的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式，調整和存儲操作參數，包括370A的非
易失存儲器、內置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。
測試夾具
測試夾具是標準附件，它提供被測器件安全防護，以保護測量人員的安全。測試夾具適應標準的A1001，中間通過Kelvin傳
感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。

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