毛細管聚焦微小樣品**薄厚度鍍層分析儀產品詳細資料介紹，多導毛細聚焦x射線膜厚測試儀性能配置和技術參數請咨詢實譜公司提供多導毛細聚焦技術X射線鍍層測厚儀的產品應用解決方案，X射線測厚儀被應用于電子元器件，LED和照明，家用電器，通訊，汽車電子領域.EFP算法結合*定位決了大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題。產品配置及技術指標說明X?射線光管：50KV?，1mA?鉬鈀檢測系統：FAST?SDD?探測器檢測元素范圍：Al?(?13)?~?U(92)應用程序語言：英／中測量原理：能量色散X射線分析分辨率：125±5eV焦斑直徑：15μm?分析方法：FP/校準曲線，吸收，熒光樣品移動距離：可設置產品優勢1.?鍍層檢測，多鍍層檢測可達?5?層；鍍層測量精度?0.001μm；2.?**大可移動全自動樣品平臺?520*520mm?(長*寬)，樣品移動距離?500*500mm?；3.?激光定位和自動多點測量功能；4.?運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低；5.?操作簡單、易學易懂、無損、、高性能、高穩定性，快速出檢測結?果?(3-30?秒)?；6.?可針對客戶個性化要求量身定做分析配置硬件；7.?軟件終身免費升級；8.?無損檢測，一次性購買標樣可*使用；9.?使用安心**，售后服務響應時間?24H?以內，提供保姆式服務；10.?可以遠程操作，解決客戶使用中的后顧之憂。測量精度更高：新開發的特的光學器件和多導毛細管技術可對**微小區域及納米級薄層高精度測量**微小樣品檢測：測試小測量點直徑可達10μm測量效率高：高靈敏度、高解析度X熒光檢測系統搭配多導毛細管技術，測量時間更短，能夠實現普通機型幾倍的檢測量X射線激發由上往下，采用Mo靶，銅管體的光管，大窗口的SDD硅漂移探測器XY軸程控控制，程控移動?焦距可變?高倍放大的高清CCD?開槽式樣品臺多級密碼設置可給予不同的管理權限毛細管鍍層分析產品特點：1、多導毛細光學系統和高性能SDD探測器：區別金屬準直，多導毛細管可將光束縮小至10?μm，同時得到數千倍的強度增益?？蓽y量**微小樣品的同時大程度**了測試的準確性及穩定性。2、微米級**小區域：在Elite-X光學系統設計下大大降低檢出限，納米級**薄鍍層均可準確、可靠測試3、廣角相機：樣品整體形貌一覽無余，且測試位置一鍵直達4、搭配高分辨微區相機：千倍放大*對焦測試區域，搭配XY微米級移動平臺，三維方向對焦聚焦測試點位，誤差<±2?μm5、多重保護系統：V型激光保護，360°探入保護，保護您的樣品不受損害，**儀器安全可靠的運作6、全自動移動平臺：可編程化的操作，針對同一類型樣品，編程測試點位，同一類樣品自動尋路直接測試7、人性化的軟件：搭配EFP核心算法軟件，人機交互，智慧操作8、可搭配全自動進送樣系統

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