多導毛細管聚焦X射線熒光鍍層測厚儀產品詳細資料介紹，多導毛細管聚焦X射線熒光鍍層測厚儀產品報價和詳細配置請咨詢蘇州實譜儀器有限公司提供毛細管鍍層測厚儀產品原理和應用測試方案。x射線熒光光譜XRF在晶圓測試中被廣泛應用1.?高性能高精度X熒光光譜儀?(XRF)2.?計算機?通道逐次近似計算法?ADC?(模擬數字轉換器)運用基本參數?(F軟件，通過簡單的三步進行無標樣標定，使用?基礎參數計算方法，對樣品進行的鍍層厚度分析3.?(多層薄膜基本參數法)?模塊進行鍍層厚度適配性強：適用于各類樣品尺寸的產品線，如600*600mm大型印刷電路板操作體驗佳：高精細樣品觀察圖像，微區小至納米級別的分辨率，實現更快速便捷的測試自動、智能：搭載可編程全自動位移平臺，無人值守、自動檢測樣品同時搭載影像識別功能，自動判定測試位置多鍍層厚度同時測量單鍍層應用?[如：Cu/ABS?等]雙鍍層應用?[如：Ag/Pd/Zn,?Au/Ni/Cu?等]三鍍層應用?[如：Au/Ni-P/Cu/Brass?等]四鍍層應用?[如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb?等]合金鍍層應?[如：Sn-Pb/Cu在高集成光路系統的基礎上，搭配多導毛細管?實現小面積或薄鍍層的高速、、穩定的測量，聚焦直徑可小至10μm，可產生比準直器機構強千倍的信號強度多導毛細管將激發光束高強度的集中在一個的小光斑上，從而顯著縮短測量時間，?在測量納米級Au厚度或薄膜層厚度及成分時，滿足微小光斑、短測量時間的同時，測量效果接近毛細管鍍層分析產品特點：1、多導毛細光學系統和高性能SDD探測器：區別金屬準直，多導毛細管可將光束縮小至10?μm，同時得到數千倍的強度增益。可測量**微小樣品的同時大程度**了測試的準確性及穩定性。2、微米級**小區域：在Elite-X光學系統設計下大大降低檢出限，納米級**薄鍍層均可準確、可靠測試3、廣角相機：樣品整體形貌一覽無余，且測試位置一鍵直達4、搭配高分辨微區相機：千倍放大*對焦測試區域，搭配XY微米級移動平臺，三維方向對焦聚焦測試點位，誤差<±2?μm5、多重保護系統：V型激光保護，360°探入保護，保護您的樣品不受損害，**儀器安全可靠的運作6、全自動移動平臺：可編程化的操作，針對同一類型樣品，編程測試點位，同一類樣品自動尋路直接測試7、人性化的軟件：搭配EFP核心算法軟件，人機交互，智慧操作8、可搭配全自動進送樣系統

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