優(yōu)爾鴻信檢測實(shí)驗(yàn)室配有場發(fā)射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚焦離子束、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等電子元件及半導(dǎo)體檢測設(shè)備，可針對電子元件，半導(dǎo)體部件進(jìn)行質(zhì)量檢測和失效分析服務(wù)。
透射電鏡和掃描電鏡都是電鏡的一種，它們在結(jié)構(gòu)和原理上有很大的區(qū)別。下面我會分別介紹這兩種電鏡的特點(diǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域。

掃描電鏡是一種低分辨率的電子顯微鏡，主要用于表面形態(tài)和結(jié)構(gòu)的觀察。掃描電鏡的工作原理是利用高能電子束轟擊樣品表面，使表面的原子或分子發(fā)生化學(xué)反應(yīng)或激發(fā)，從而產(chǎn)生二次發(fā)射電子。通過收集這些二次發(fā)射電子，可以得到樣品表面的形貌信息。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是可以在樣品不受損的情況下進(jìn)行形貌觀察，但分辨率相對較低。

掃描電鏡測試的運(yùn)用：
SEM形貌觀察：
觀察納米材料的結(jié)構(gòu)、顆粒尺寸、分布、均勻度及團(tuán)聚情況；
觀察高分子材料的粒、塊、纖維、膜片及其制品的微觀形貌，以及異常分析；
觀察金屬材料的微觀組織，如馬氏體、奧氏體、珠光體、鐵素體等；
分析金屬材料表面的磨損、腐蝕和鍍層厚度等；
觀察斷口形貌，揭示斷裂機(jī)理，如疲勞斷裂等；
分析陶瓷材料的原料、成品的顯微結(jié)構(gòu)及缺陷，觀察晶相、晶體大小、雜質(zhì)、氣孔及孔隙分布等
觀察生物細(xì)胞、組織，如膜結(jié)構(gòu)、細(xì)胞質(zhì)和細(xì)胞器等。
結(jié)合切片技術(shù)，分析PCB板IMC厚度、錫須觀察等
EDS成分分析：
分析納米材料的微區(qū)成分，確定其組成；
測定微量顆粒成分，如異物成分分析；
結(jié)合切片技術(shù)，測試金屬鍍層成分；
清潔度濾膜顆粒成分分析等

透射電鏡（Transmission Electron Microscope，TEM）
掃描電鏡是微觀形貌和成分分析設(shè)備，放大倍率可以從幾倍到百萬倍連續(xù)可調(diào)，從堅(jiān)硬的金屬到柔軟的生物組織，從固體到液體樣品，掃描電鏡均能分析。常用于觀察納米材料結(jié)構(gòu)、斷面失效分析、金相組織觀察、清潔度濾膜顆粒分析、PCBA檢測等

優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)（深圳）有限公司旗下的成都檢測中心（華南檢測中心成都分支）成立于1996年，配合高科技電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)、驗(yàn)證、生產(chǎn)過程的檢測需求組建科技實(shí)驗(yàn)室，創(chuàng)始團(tuán)隊(duì)匯集科技精英、憑借雄厚的技術(shù)背景和開拓創(chuàng)新精神，在一張白紙上點(diǎn)石成金。華南檢測中心迄今發(fā)展成目**大功能22個(gè)專業(yè)的實(shí)驗(yàn)室，主要檢測設(shè)備4300余臺（套），擁有1500人的管理、技術(shù)人員團(tuán)隊(duì)，打造了一個(gè)提供快速、精密、準(zhǔn)確檢測能力、服務(wù)網(wǎng)絡(luò)遍及全國的大型旗艦實(shí)驗(yàn)室。于2003年**中國國家合格評定**（CNAS）的初次認(rèn)可，檢測能力獲得蘋果、戴爾、惠普等**客戶的認(rèn)可，實(shí)現(xiàn)［一份報(bào)告、**通行］。 檢測業(yè)務(wù)主要分為：尺寸量測與3D工程、儀器校準(zhǔn)、材料分析（金屬、塑料）、有害物質(zhì)檢測、電子零組件失效分析、物流包裝測試、可靠性分析（氣候、機(jī)械）、仿真分析、熱傳測試、聲學(xué)測試、食材檢測（微生物、理化檢測）、兒童玩具測試、汽車材料及零部件檢測、產(chǎn)品認(rèn)證等。