優爾鴻信檢測實驗室配備有場發射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚合離子束、工業CT等用于電子和半導體行業檢測設備，可開展電子元器件和半導體芯片質量檢測與失效分析服務。掃描電鏡測試的運用：SEM形貌觀察：觀察納米材料的結構、顆粒尺寸、分布、均勻度及團聚情況；觀察高分子材料的粒、塊、纖維、膜片及其制品的微觀形貌，以及異常分析；觀察金屬材料的微觀組織，如馬氏體、奧氏體、珠光體、鐵素體等；分析金屬材料表面的磨損、腐蝕和鍍層厚度等；觀察斷口形貌，揭示斷裂機理，如疲勞斷裂等；分析陶瓷材料的原料、成品的顯微結構及缺陷，觀察晶相、晶體大小、雜質、氣孔及孔隙分布等觀察生物細胞、組織，如膜結構、細胞質和細胞器等。結合切片技術，分析PCB板IMC厚度、錫須觀察等EDS成分分析：分析納米材料的微區成分，確定其組成；測定微量顆粒成分，如異物成分分析；結合切片技術，測試金屬鍍層成分；清潔度濾膜顆粒成分分析等透射電鏡和掃描電鏡都是電鏡的一種，它們在結構和原理上有很大的區別。下面我會分別介紹這兩種電鏡的特點和應用領域。透射電鏡（Transmission Electron Microscope，TEM）掃描電鏡是一種低分辨率的電子顯微鏡，主要用于表面形態和結構的觀察。掃描電鏡的工作原理是利用高能電子束轟擊樣品表面，使表面的原子或分子發生化學反應或激發，從而產生二次發射電子。通過收集這些二次發射電子，可以得到樣品表面的形貌信息。掃描電鏡的優點是可以在樣品不受損的情況下進行形貌觀察，但分辨率相對較低。掃描電鏡測試結合SEM形貌分析和EDS能譜分析，為研究人員提供了全面的微觀信息，成為材料分析、質量控制、故障診斷等領域的工具。隨著技術的不斷發展，掃描電鏡測試將在更多領域發揮重要作用。

優爾鴻信檢測技術（深圳）有限公司旗下的成都檢測中心（華南檢測中心成都分支）成立于1996年，配合高科技電子產品設計、驗證、生產過程的檢測需求組建科技實驗室，創始團隊匯集科技精英、憑借雄厚的技術背景和開拓創新精神，在一張白紙上點石成金。華南檢測中心迄今發展成目**大功能22個專業的實驗室，主要檢測設備4300余臺（套），擁有1500人的管理、技術人員團隊，打造了一個提供快速、精密、準確檢測能力、服務網絡遍及全國的大型旗艦實驗室。于2003年**中國國家合格評定**（CNAS）的初次認可，檢測能力獲得蘋果、戴爾、惠普等**客戶的認可，實現［一份、**通行］。 檢測業務主要分為：尺寸量測與3D工程、儀器校準、材料分析（金屬、塑料）、有害物質檢測、電子零組件失效分析、物流包裝測試、可靠性分析（氣候、機械）、仿真分析、熱傳測試、聲學測試、食材檢測（微生物、理化檢測）、兒童玩具測試、汽車材料及零部件檢測、產品認證等。