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導(dǎo)電陽(yáng)絲(CAFs)現(xiàn)象和其他電化學(xué)遷移的不一樣的地方如下：Conductive AnodicFilaments
(1 )遷移的金屬是銅，不是鉛或錫。
(2) 導(dǎo)電陽(yáng)絲是從陽(yáng)向陽(yáng)方向生長(zhǎng)。
(3) 導(dǎo)電陽(yáng)絲是由金屬鹽類構(gòu)成的，而不是由中性金屬原子構(gòu)成的。

在電子制造領(lǐng)域，SIR被認(rèn)為是評(píng)估用戶線路板組裝材料的有效評(píng)估手段。SIR測(cè)試可以用來(lái)評(píng)估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問(wèn)題。這些失效通常是由于材料的交互性，工藝控制上的疏忽，或者材料本身特性不能達(dá)到用戶所需要的性能。通過(guò)加速溫濕度的變化，SIR能夠測(cè)量測(cè)試在特定時(shí)間內(nèi)電流的變化。表面絕緣阻抗（SURFACE INSULATION RESISTANCE）可以定義為兩個(gè)電路導(dǎo)體之間的電阻。方塊電阻, 體電導(dǎo)率,和電解污染泄漏 化污染都可以成為影響表面絕緣電阻變化的因素，我們也可以將表面電阻理解成為整個(gè)電路阻止引腳或者引腳表面短路的能力

導(dǎo)電陽(yáng)絲是一種由于電化學(xué)反應(yīng)導(dǎo)致的失效類型，這種失效模式是PCB內(nèi)部的一種含銅的絲狀物從陽(yáng)向陰方向生長(zhǎng)而形成的陽(yáng)導(dǎo)電形細(xì)絲物，簡(jiǎn)稱CAF。CAF的形成是由于玻纖結(jié)合的物理破壞，在潮濕的環(huán)境下導(dǎo)致玻纖分離界面中出現(xiàn)水介質(zhì)，從而提供了電化學(xué)通道，促進(jìn)了腐蝕產(chǎn)物的輸送。

目的： 離子遷移測(cè)試可以用來(lái)評(píng)估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問(wèn)題。給電路施加一定電壓，通過(guò)測(cè)試電路的電流大小，來(lái)計(jì)算出電阻值，并記錄電阻值隨時(shí)間變化情況。這些失效通常是由于材料的交互性，工藝控制上的疏忽，或者材料本身特性不能達(dá)到用戶所需要的性能。通過(guò)加速溫濕度的變化，SIR能夠測(cè)量測(cè)試在特定時(shí)間內(nèi)電流的變化。
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