當封測廠同時部署ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設備時，每臺設備輸出的stdf、log、jdf、spd、csv等格式差異常導致數據接入困難。YMS內置多協議解析引擎，可自動識別各類測試平臺的數據結構與接口協議，*定制開發(fā)即可完成數據采集與格式轉換。系統(tǒng)同步執(zhí)行重復性檢測、缺失字段識別和異常值過濾，確保入庫數據準確完整。標準化數據庫對所有來源數據統(tǒng)一分類存儲，為后續(xù)良率分析提供一致基礎。這種“即插即用”的兼容能力，明顯降低多設備環(huán)境下的集成復雜度與維護成本。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際設備生態(tài)，持續(xù)優(yōu)化YMS的適配廣度與穩(wěn)定性。工藝窗口優(yōu)化得益于Mapping Over Ink處理對失效模式的精確識別，提升制造良率水平。上海晶圓Mapping Inkless

不同封測廠的設備組合、工藝路線和管理重點差異明顯，標準化系統(tǒng)難以滿足全部需求。YMS提供高度可定制的生產良率管理方案，可根據客戶實際接入的Tester設備（如T861、STS8107、MS7000等）和數據結構，調整解析邏輯、分析維度與報表模板。例如，針對高頻返工場景，可定制缺陷聚類規(guī)則；針對客戶審計需求，可開發(fā)合規(guī)性報告模塊。系統(tǒng)底層保持統(tǒng)一數據治理規(guī)范，上層應用則靈活適配業(yè)務流程，確保數據質量與使用效率兼顧。SYL/SBL自動計算與多格式報表導出功能，進一步提升質量閉環(huán)速度。這種“量體裁衣”式的服務模式，使系統(tǒng)真正融入客戶日常運營。上海偉諾信息科技有限公司將定制開發(fā)視為價值共創(chuàng)過程，以技術靈活性支撐客戶業(yè)務*特性。上海晶圓Mapping InklessMapping Over Ink處理推動封測環(huán)節(jié)向預測性質量演進，實現主動風險管理。

傳統(tǒng)良率卡控依賴人工設定固定閾值，難以適應產品迭代或工藝波動。YMS系統(tǒng)基于歷史測試數據自動計算SYL（良率下限）與SBL（良率控制線），并根據統(tǒng)計規(guī)律動態(tài)調整控制邊界。當某批次實際良率跌破SBL時，系統(tǒng)立即觸發(fā)告警，通知質量人員介入；若連續(xù)多批接近SYL，則提示需啟動工藝評審。該機制將質量防線前置，防止低良率晶圓流入昂貴的封裝環(huán)節(jié)，有效控制報廢成本。自動計算替代經驗估算，確保卡控標準客觀、一致且可追溯。上海偉諾信息科技有限公司將SYL、SBL自動卡控作為YMS的關鍵功能，支撐客戶實現過程質量的主動管理。

良率異常若依賴人工逐項排查，常需跨多個系統(tǒng)比對數據，耗時且易遺漏關鍵線索。YMS自動匯聚來自Chroma、STS8200、ASL1000等平臺的測試結果，構建統(tǒng)一數據庫，并以熱力圖、趨勢曲線等形式直觀展示缺陷分布與良率波動。當某批次FT良率下降時，工程師可快速調取對應CP參數與晶圓區(qū)域熱圖，判斷是否為特定象限的打線偏移所致。WAT參數的同步關聯更可追溯至前道工藝漂移。這種“一站式”可視化分析，使根因定位從數天縮短至數小時內，大幅減少試錯成本。上海偉諾信息科技有限公司依托多維數據整合能力，讓YMS成為快速響應質量問題的關鍵工具。GDBC算法利用聚類分析檢測空間聚類型失效模式，精確定位斑點劃痕類缺陷。

當多臺測試設備同時產出異構數據時，傳統(tǒng)人工整合方式不僅耗時，還易引入誤差。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，將來自ETS364、STS8200、TR6850等設備的spd、jdf、zip等格式數據統(tǒng)一解析、清洗并結構化存儲，構建一致的數據底座。在此基礎上，結合WAT、CP、FT等關鍵測試階段的參數變化，系統(tǒng)能夠揭示影響良率的深層關聯，輔助工程師精確調整工藝窗口。多維度可視化圖表讓晶圓級缺陷熱力圖、批次良率走勢一目了然，明顯縮短問題響應周期。報表功能支持按需定制并導出多種辦公格式，提升跨部門協同效率。SYL/SBL的實時卡控能力，則有效預防批量性質量風險。上海偉諾信息科技有限公司秉持“以信為本，以質取勝”的宗旨，致力于打造適配國產半導體生態(tài)的智能良率管理工具。Mapping數據經解析后與Bin信息精確對齊，確保測試結果可追溯。上海晶圓Mapping Inkless

Mapping Over Ink處理因數據分析自動化大幅提升效率，縮短封測周期時間。上海晶圓Mapping Inkless

在半導體設計公司或封測廠面臨多源測試數據難以統(tǒng)一管理的挑戰(zhàn)時，YMS良率管理系統(tǒng)提供了一套端到端的解決方案。系統(tǒng)自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平臺，采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式原始數據，并完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎可靠。通過標準化數據庫對數據統(tǒng)一分類，企業(yè)可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域對比缺陷分布，快速定位工藝異常。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析，進一步揭示影響良率的根本原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制強化了過程質量防線，而靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，滿足跨層級決策需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)打磨YMS系統(tǒng)，助力客戶構建自主可控的良率管理能力。上海晶圓Mapping Inkless

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實力背景、信譽可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標，有組織有體系的公司，堅持于帶領員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍圖，在上海市等地區(qū)的數碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎，也希望未來公司能成為行業(yè)的**，努力為行業(yè)領域的發(fā)展奉獻出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強不息，斗志昂揚的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實守信的方針，員工精誠努力，協同奮取，以品質、服務來贏得市場，我們一直在路上！

上海偉諾信息科技有限公司成立于2019年，坐落于上海松江。專注于半導體行業(yè)系統(tǒng)軟件，服務于半導體設計公司及封測廠. 基于完全自主開發(fā)的Winner DevPro開發(fā)平臺，開發(fā)了適用于半導體設計公司的ERP系統(tǒng)、運營管理系統(tǒng)、項目管理系統(tǒng)、測試質量管理系統(tǒng)；半導體封測工廠MES、工程質量管理系統(tǒng)、測試大數據分析和車規(guī)Map管理系統(tǒng)。為客戶提供各種標準化和定制化系統(tǒng)級軟件的整解決方案。