面對市場上良率管理系統供應商良莠不齊的局面，技術自主性與行業適配能力成為選型主要標準。真正有效的系統需同時支持多品牌Tester設備、處理異構數據格式，并具備深度分析與可視化能力。YMS系統已集成ETS364、SineTest、ASL1000、MS7000、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設備的數據接口，覆蓋stdf、csv、log等十余種格式，實現一次接入、全域兼容。其分析引擎不僅支持時間趨勢與晶圓區域對比，還能關聯WAT、CP、FT參數變化，精確定位根因。更重要的是，系統背后有完整的實施與服務體系支撐，確保從部署到優化的每個環節穩定可控。這種軟硬協同的能力，使YMS在國產替代進程中脫穎而出。上海偉諾信息科技有限公司依托多年項目經驗，持續驗證其作為可靠供應商的技術實力與服務承諾。Mapping Over Ink處理助力國產軟件生態建設，推動技術自主可控。上海可視化PAT平臺

在封測工廠的日常運營中，良率波動往往源于測試數據分散、格式不一或異常信息未被及時識別。YMS系統自動對接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺，高效采集stdf、csv、log、txt等多種格式的原始測試數據，并完成重復性檢測、缺失值識別與異常數據過濾，確保后續分析基于準確、完整的數據基礎。通過標準化數據庫對數據統一分類，系統支持從時間序列追蹤良率趨勢，或從晶圓區域對比缺陷分布，快速定位工藝偏差。SYL與SBL參數的自動計算與卡控機制，進一步強化了質量防線。靈活的報表工具可按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF，滿足從產線到管理層的信息需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續深耕半導體軟件領域，其YMS系統已成為封測企業實現質量閉環管理的重要支撐。上海可視化MappingOverInk處理服務商Mapping Over Ink處理支持結果回溯，便于客戶驗證和審計分析結果。

為提升晶圓測試（CP測試）的質量與可靠性，行業的關注點已從單一的電性性能測試，擴展到電性與物理外觀并重的綜合質量評估。因此，越來越多的公司在CP測試環節中，引入外觀檢測設備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對晶圓上每個Die的表面進行高精度、自動化的掃描與檢測，以識別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價值在于，它彌補了傳統電性測試的盲區。一顆芯片可能電性參數測試“通過”，但其物理結構已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續的封裝應力或終端應用中有較高早期失效的風險，是產品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關鍵問題：一是通過數據融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉換為各類探針臺（如TSK、TEL、UF3000等）可識別的格式，實現從質量判定到生產執行的自動化，有效提升品質與效率。

良率管理系統的價值不僅在于技術實現，更在于對半導體企業關鍵痛點的精確回應。當設計公司或制造工廠面臨測試數據分散、格式混亂、分析滯后等問題時，YMS系統通過對接ETS364、SineTest、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設備，自動完成從數據采集到異常過濾的全流程治理。標準化數據庫為多維度分析奠定基礎，使時間趨勢、區域對比、參數關聯等洞察成為可能。例如，通過對比同一晶圓邊緣與中心區域的良率差異，可判斷光刻或刻蝕工藝的均勻性問題；結合FT與CP數據偏差，可追溯封裝環節的潛在風險。SYL與SBL的自動計算功能，則為良率目標達成提供量化依據。報表系統支持靈活配置與多格式導出，明顯降低管理溝通成本。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質取勝”為準則，推動YMS成為國產半導體提質增效的可靠伙伴。STACKED算法適用于多層結構失效分析，解析層間關聯缺陷的分布特征。

分散在不同Excel表格或本地數據庫中的測試數據，往往難以跨項目調用和對比。YMS通過構建標準化數據庫，將來自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設備的異構數據，按產品型號、測試階段、時間、區域等維度統一歸檔，形成結構清晰、索引完備的數據資產池。用戶可通過多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現。標準化存儲不僅提升查詢效率，更為WAT/CP/FT參數聯動分析、SYL/SBL卡控等高級功能提供一致數據源。跨部門協作時，設計、工藝與質量團隊可基于同一套數據開展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業經驗，使YMS成為企業構建數據驅動文化的基礎設施。Mapping Over Ink處理因數據分析自動化大幅提升效率，縮短封測周期時間。上海可視化PAT平臺

Mapping Over Ink處理兼容主流Probe設備數據格式，支持跨平臺數據無縫對接。上海可視化PAT平臺

當多臺測試設備同時產出異構數據時，傳統人工整合方式不僅耗時，還易引入誤差。YMS系統通過自動化流程，將來自ETS364、STS8200、TR6850等設備的spd、jdf、zip等格式數據統一解析、清洗并結構化存儲，構建一致的數據底座。在此基礎上，結合WAT、CP、FT等關鍵測試階段的參數變化，系統能夠揭示影響良率的深層關聯，輔助工程師精確調整工藝窗口。多維度可視化圖表讓晶圓級缺陷熱力圖、批次良率走勢一目了然，明顯縮短問題響應周期。報表功能支持按需定制并導出多種辦公格式，提升跨部門協同效率。SYL/SBL的實時卡控能力，則有效預防批量性質量風險。上海偉諾信息科技有限公司秉持“以信為本，以質取勝”的宗旨，致力于打造適配國產半導體生態的智能良率管理工具。上海可視化PAT平臺

上海偉諾信息科技有限公司在**業領域中，一直處在一個不斷銳意進取，不斷制造創新的市場高度，多年以來致力于發展富有創新價值理念的產品標準，在上海市等地區的數碼、電腦中始終保持良好的商業口碑，成績讓我們喜悅，但不會讓我們止步，殘酷的市場磨煉了我們堅強不屈的意志，和諧溫馨的工作環境，富有營養的公司土壤滋養著我們不斷開拓創新，勇于進取的無限潛力，攜手大家一起走向共同輝煌的未來，回首過去，我們不會因為取得了一點點成績而沾沾自喜，相反的是面對競爭越來越激烈的市場氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰的準備，要不畏困難，激流勇進，以一個更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來！

上海偉諾信息科技有限公司成立于2019年，坐落于上海松江。專注于半導體行業系統軟件，服務于半導體設計公司及封測廠. 基于完全自主開發的Winner DevPro開發平臺，開發了適用于半導體設計公司的ERP系統、運營管理系統、項目管理系統、測試質量管理系統；半導體封測工廠MES、工程質量管理系統、測試大數據分析和車規Map管理系統。為客戶提供各種標準化和定制化系統級軟件的整解決方案。