半導(dǎo)體測(cè)試是半導(dǎo)體制造過(guò)程中質(zhì)量的一道關(guān)鍵防線，扮演著日益關(guān)鍵角色，單純依賴傳統(tǒng)電性測(cè)試的“通過(guò)/失敗”界限，已無(wú)法滿足對(duì)產(chǎn)品“零缺陷”的追求。為了大力提升測(cè)試覆蓋度，構(gòu)筑更為堅(jiān)固的質(zhì)量防線，采用GDBN技術(shù)來(lái)識(shí)別并剔除那些位于“不良環(huán)境”中的高風(fēng)險(xiǎn)芯片，已成為車規(guī)、工規(guī)等類產(chǎn)品**的必要手段。

細(xì)化需求。

為此，上海偉諾信息科技有限公司為客戶提供了一套包含多重GDBN算法的綜合解決方案，該方案具備高度的靈活性與強(qiáng)大的適應(yīng)性，能夠精確滿足半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司與CP測(cè)試廠對(duì)提升產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵訴求，成為客戶應(yīng)對(duì)高質(zhì)量挑戰(zhàn)的可靠伙伴，共同構(gòu)筑面向未來(lái)的半導(dǎo)體質(zhì)量防線。 高價(jià)值芯片生產(chǎn)依賴Mapping Over Ink處理的精確剔除，保障關(guān)鍵器件可靠性。上海半導(dǎo)體GDBC平臺(tái)

每日晨會(huì)前臨時(shí)整理良率報(bào)表，常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭(zhēng)議。YMS系統(tǒng)按預(yù)設(shè)模板自動(dòng)生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào)，內(nèi)容涵蓋良率趨勢(shì)、區(qū)域缺陷分布、WAT/CP/FT關(guān)聯(lián)分析等關(guān)鍵指標(biāo)，并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式。生產(chǎn)主管可用PPT版直接匯報(bào)，質(zhì)量工程師調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘，客戶審計(jì)則接收標(biāo)準(zhǔn)化PDF文檔。自動(dòng)化流程消除手工匯總誤差，確保全公司使用同一套可靠數(shù)據(jù)。報(bào)告生成時(shí)間從數(shù)小時(shí)壓縮至分鐘級(jí)，大幅提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司通過(guò)靈活報(bào)表工具，讓數(shù)據(jù)真正服務(wù)于決策閉環(huán)。上海半導(dǎo)體GDBC系統(tǒng)上海偉諾信息科技mapping去邊功能，采用靈活配置的方式幫助用戶剔除Mapping邊緣潛在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)芯片。

芯片制造對(duì)良率控制的顆粒度要求較高，任何微小偏差都可能造成重大損失。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)接入各類Tester平臺(tái)產(chǎn)生的多格式測(cè)試數(shù)據(jù)，完成高精度的數(shù)據(jù)解析與整合，確保從晶圓到單顆芯片的良率信息真實(shí)可靠。系統(tǒng)依托標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)，支持按時(shí)間、區(qū)域、批次等多維度進(jìn)行缺陷聚類與根因追溯，幫助研發(fā)與制造團(tuán)隊(duì)快速響應(yīng)異常。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)數(shù)據(jù)的變化，可深入剖析工藝穩(wěn)定性或設(shè)計(jì)兼容性問(wèn)題。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與卡控，為芯片級(jí)質(zhì)量提供雙重保障。報(bào)表工具支持按模板生成周期報(bào)告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，提升信息流轉(zhuǎn)效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來(lái)，專注于半導(dǎo)體系統(tǒng)軟件研發(fā)，其YMS系統(tǒng)正成為國(guó)產(chǎn)芯片企業(yè)提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵助力。

良率波動(dòng)若只憑單點(diǎn)數(shù)據(jù)判斷，容易誤判趨勢(shì)。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測(cè)試結(jié)果按時(shí)間序列歸檔，生成連續(xù)良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當(dāng)某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時(shí)，系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間，還可聯(lián)動(dòng)同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護(hù)記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品，工程師則可深入分析小時(shí)級(jí)波動(dòng)以優(yōu)化機(jī)臺(tái)參數(shù)。這種動(dòng)態(tài)追蹤能力，使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報(bào)表工具，時(shí)間維度分析結(jié)果可一鍵導(dǎo)出為PPT或PDF，用于晨會(huì)或客戶匯報(bào)。上海偉諾信息科技有限公司通過(guò)YMS的時(shí)間序列分析功能，助力客戶實(shí)現(xiàn)精細(xì)化過(guò)程管控。Mapping Over Ink處理通過(guò)虛擬篩選避免不良品流入封裝或市場(chǎng)環(huán)節(jié)，提升產(chǎn)品良率。

Mapping Over Ink是一套在晶圓測(cè)試（CP）后，對(duì)電性測(cè)試圖譜進(jìn)行智能分析、處理，并直接驅(qū)動(dòng)探針臺(tái)對(duì)特定芯片進(jìn)行噴墨打點(diǎn)的自動(dòng)化系統(tǒng)。它將各種分析算法（如ZPAT, GDBN）得出的“失效判定”轉(zhuǎn)化為物理世界中的行動(dòng)——將不良品標(biāo)記出來(lái)，使其在后續(xù)封裝中被剔除。其重點(diǎn)是預(yù)見(jiàn)性地剔除所有潛在缺陷芯片，而不僅是那些已經(jīng)明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。

上海偉諾信息科技有限公司作為半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的解決方案供應(yīng)商，致力于為國(guó)內(nèi)外半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司與晶圓測(cè)試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺(tái)集成了業(yè)界*、專業(yè)的數(shù)據(jù)分析與處理模塊，旨在通過(guò)多重維度的智能篩選，構(gòu)筑起一道安全的質(zhì)量防線，有效地提升用戶的晶圓測(cè)試質(zhì)量與產(chǎn)品可靠性。 上海偉諾信息科技GDBN功能，通過(guò)各種算法可以幫助客戶快速剔除芯片上異常風(fēng)險(xiǎn)芯片。上海半導(dǎo)體MappingOverInk處理系統(tǒng)定制

Mapping Over Ink處理系統(tǒng)輸出結(jié)構(gòu)化日志，完整記錄處理過(guò)程滿足質(zhì)量追溯需求。上海半導(dǎo)體GDBC平臺(tái)

半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司對(duì)良率分析的顆粒度要求較高，需兼顧芯片級(jí)精度與跨項(xiàng)目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺(tái)產(chǎn)生的多格式測(cè)試數(shù)據(jù)，完成統(tǒng)一解析與結(jié)構(gòu)化存儲(chǔ)，確保從晶圓到單顆芯片的數(shù)據(jù)鏈完整。系統(tǒng)不僅實(shí)現(xiàn)時(shí)間趨勢(shì)與區(qū)域?qū)Ρ确治觯€能通過(guò)WAT參數(shù)漂移預(yù)警潛在設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)，輔助早期迭代優(yōu)化。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算功能，為良率目標(biāo)達(dá)成提供量化依據(jù)；靈活報(bào)表引擎則支持按項(xiàng)目、產(chǎn)品線或客戶維度生成分析簡(jiǎn)報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報(bào)場(chǎng)景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動(dòng)響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動(dòng)預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則，持續(xù)打磨YMS的功能完整性與行業(yè)適配性。上海半導(dǎo)體GDBC平臺(tái)

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著**的發(fā)展理念，**的管理經(jīng)驗(yàn)，在發(fā)展過(guò)程中不斷完善自己，要求自己，不斷創(chuàng)新，時(shí)刻準(zhǔn)備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及客戶資源，在業(yè)界也收獲了很多良好的評(píng)價(jià)，這些都源自于自身的努力和大家共同進(jìn)步的結(jié)果，這些評(píng)價(jià)對(duì)我們而言是較好的前進(jìn)動(dòng)力，也促使我們?cè)谝院蟮牡缆飞媳３謯^發(fā)圖強(qiáng)、一往無(wú)前的進(jìn)取創(chuàng)新精神，努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個(gè)新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來(lái)，創(chuàng)造更有價(jià)值的產(chǎn)品，我們將以更好的狀態(tài)，更認(rèn)真的態(tài)度，更飽滿的精力去創(chuàng)造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長(zhǎng)！

上海偉諾信息科技有限公司成立于2019年，坐落于上海松江。專注于半導(dǎo)體行業(yè)系統(tǒng)軟件，服務(wù)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司及封測(cè)廠. 基于完全自主開(kāi)發(fā)的Winner DevPro開(kāi)發(fā)平臺(tái)，開(kāi)發(fā)了適用于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司的ERP系統(tǒng)、運(yùn)營(yíng)管理系統(tǒng)、項(xiàng)目管理系統(tǒng)、測(cè)試質(zhì)量管理系統(tǒng)；半導(dǎo)體封測(cè)工廠MES、工程質(zhì)量管理系統(tǒng)、測(cè)試大數(shù)據(jù)分析和車規(guī)Map管理系統(tǒng)。為客戶提供各種標(biāo)準(zhǔn)化和定制化系統(tǒng)級(jí)軟件的整解決方案。