良率異常若依賴人工逐項排查，常需跨多個系統比對數據，耗時且易遺漏關鍵線索。YMS自動匯聚來自Chroma、STS8200、ASL1000等平臺的測試結果，構建統一數據庫，并以熱力圖、趨勢曲線等形式直觀展示缺陷分布與良率波動。當某批次FT良率下降時，工程師可快速調取對應CP參數與晶圓區域熱圖，判斷是否為特定象限的打線偏移所致。WAT參數的同步關聯更可追溯至前道工藝漂移。這種“一站式”可視化分析，使根因定位從數天縮短至數小時內，大幅減少試錯成本。上海偉諾信息科技有限公司依托多維數據整合能力，讓YMS成為快速響應質量問題的關鍵工具。GDBC算法識別的聚類區域常指向設備或掩模問題，反饋工藝優化方向。上海可視化PAT系統定制

面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數據流，傳統手工轉換不僅耗時，還易引入人為錯誤。YMS系統采用智能解析與清洗技術，自動校驗字段一致性，對缺失或錯位字段進行邏輯補全或標記，確保每條記錄結構完整。系統支持批量歷史數據導入與實時測試流同步處理，無論數據來自ASL1000還是TR6850，均能統一轉化為可用于分析的標準數據集。在此基礎上，異常值被自動過濾，重復記錄被精確剔除，明顯提升數據可信度。這種端到端的自動化處理機制，使工程師*再耗費數小時整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際數據特征，構建了這一高效可靠的數據預處理體系。上海晶圓PATMapping Inkless避免油墨標記對**封裝工藝的干擾，保持晶圓潔凈度。

在半導體設計與制造流程中，良率管理系統的價值體現在對復雜測試數據的高效整合與深度挖掘。系統自動對接多種測試設備輸出的異構數據，完成清洗、去重與結構化處理，構建可靠的數據基礎。通過對WAT、CP、FT等關鍵工藝節點參數的聯動分析，系統能夠揭示潛在的工藝偏差或設計缺陷，為研發和制造團隊提供可執行的優化建議。多維度圖表直觀呈現良率波動與缺陷分布，支持從批次到晶圓級別的精細追溯。報表功能滿足不同管理層級對數據呈現的多樣化需求，實現從現場到決策層的信息貫通。上海偉諾信息科技有限公司立足“以信為本，以質取勝”的理念，持續打磨YMS產品，推動國產半導體軟件生態建設。

當多臺測試設備同時產出異構數據時，傳統人工整合方式不僅耗時，還易引入誤差。YMS系統通過自動化流程，將來自ETS364、STS8200、TR6850等設備的spd、jdf、zip等格式數據統一解析、清洗并結構化存儲，構建一致的數據底座。在此基礎上，結合WAT、CP、FT等關鍵測試階段的參數變化，系統能夠揭示影響良率的深層關聯，輔助工程師精確調整工藝窗口。多維度可視化圖表讓晶圓級缺陷熱力圖、批次良率走勢一目了然，明顯縮短問題響應周期。報表功能支持按需定制并導出多種辦公格式，提升跨部門協同效率。SYL/SBL的實時卡控能力，則有效預防批量性質量風險。上海偉諾信息科技有限公司秉持“以信為本，以質取勝”的宗旨，致力于打造適配國產半導體生態的智能良率管理工具。上海偉諾信息科技GDBN功能，通過各種算法可以幫助客戶快速剔除芯片上異常風險芯片。

在半導體制造的后段工藝流程中，對晶圓測試（CP）階段生成的Mapping圖進行PAT（Part Average Testing）處理，已成為一項常規且至關重要的質量管控手段。該技術的價值在于運用統計方法，識別并剔除那些雖未**出規格界限但表現異常的“潛在缺陷”芯片，從而在封裝前有效提升產品的良率與可靠性。上海偉諾信息科技有限公司的Mapping Over Ink處理方案，正是這一**質量理念的踐行者。該方案嚴格遵循AEC-Q100等車規級認證標準，不僅提供標準PAT功能，更針對高可靠性應用的嚴苛要求，內置了SPAT與DPAT等處理模式。通過對測試參數進行多維度、智能化的異常分析，偉諾方案能有效提升CP測試的缺陷檢出率，將早期失效風險遏制在封裝之前。這直接帶來了測試質量的飛躍與測試成本的優化，助力客戶輕松滿足車規、工規等產品對質量與可靠性的不懈追求。UPLY處理針對特定層間關聯缺陷，通過垂直面算法判定單顆Die失效概率。上海自動化MappingOverInk處理服務

Mapping Inkless特別適用于潔凈度要求高的車規級場景，**晶圓表面完整性。上海可視化PAT系統定制

在半導體設計公司或封測廠面臨多源測試數據難以統一管理的挑戰時，YMS良率管理系統提供了一套端到端的解決方案。系統自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平臺，采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式原始數據，并完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎可靠。通過標準化數據庫對數據統一分類，企業可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區域對比缺陷分布，快速定位工藝異常。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析，進一步揭示影響良率的根本原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制強化了過程質量防線，而靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，滿足跨層級決策需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續打磨YMS系統，助力客戶構建自主可控的良率管理能力。上海可視化PAT系統定制

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實力背景、信譽可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標，有組織有體系的公司，堅持于帶領員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍圖，在上海市等地區的數碼、電腦行業中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發展奠定的良好的行業基礎，也希望未來公司能成為行業的**，努力為行業領域的發展奉獻出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態度和不斷的完善創新理念以及自強不息，斗志昂揚的的企業精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創佳績，一直以來，公司貫徹執行科學管理、創新發展、誠實守信的方針，員工精誠努力，協同奮取，以品質、服務來贏得市場，我們一直在路上！

上海偉諾信息科技有限公司成立于2019年，坐落于上海松江。專注于半導體行業系統軟件，服務于半導體設計公司及封測廠. 基于完全自主開發的Winner DevPro開發平臺，開發了適用于半導體設計公司的ERP系統、運營管理系統、項目管理系統、測試質量管理系統；半導體封測工廠MES、工程質量管理系統、測試大數據分析和車規Map管理系統。為客戶提供各種標準化和定制化系統級軟件的整解決方案。