WDK 干涉測量鏡頭
適合非接觸光學壓型
可選Michelson (2x and 5x) 鏡頭
F=200mm鏡筒遠場校正設計
 
用途：
干涉測量鏡頭可用在非接觸光學壓型測量設備上，通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數等。也可用來檢測表面粗糙度，測量精度非常高，在一個波長之內。一束光通過分光鏡，可將光直接射向樣品表面和內置反光鏡。從樣品表面反射的光線通過再結合，就產生了干涉圖案。Michelson鏡頭擁有更長的工作距離，更寬的視場和更大的焦深。采用F=200mm鏡筒的話可將鏡頭直接裝配到C接口相機上。

WDK Interferometry Objectives
Suitable for Non-Contact Optical Profiling
Michelson (2x and 5x)
Infinity Corrected F=200mm Tube Lens Design

Interferometry objectives are used in non-contact optical profile measurement devices to obtain surface maps and surface measurement parameters. They can be used to examine surface topography with very high precision—to within a fraction of the wavelength of light. In these objectives, a light beam passes through a beamsplitter, which directs the light to both the surface of the sample and a built-in reference mirror. The light reflected from these surfaces recombines and a fringe interference pattern is formed. The Michelson objectives provide comparatively longer working distances, wider fields of view and larger depth of focus, whereas the the F=200mm tube lens allows these objectives to be integrated to a C-Mount camera.
 
技術參數：
倍率2X5XNA0.0550.14W.D（mm）1515焦點距離(mm)10040分解能 (µm)52被寫界深度(µm)9114實視場2/3"; Sensor (mm)4.4 x 3.31.76 x 1.32實視場1/2"; Sensor (mm)3.2 x 2.41.28 x 0.96重量 (g)430450 


類型 干涉鏡頭 ** WDK 型號 IFS APO 目鏡放大倍數 10X 物鏡放大倍數 5X,2X 儀器放大倍數 50X,20X 重量 200（g） 適用范圍 干涉測量 裝箱數 1 加工定制 否 規格 IFS APO 2X,IFS APO 5X

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工藝 : 機加工;電工組裝;注塑加工;
**名稱 : 聚亮
質量控制 : 內部