廣東北創光電科技股份有限公司為您提供反射率檢測儀、分光儀、分光光度計、光學儀器。儀器描述 bcsp光譜儀是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的檢測/反射率，適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量.儀器特點 *顯微測定微小領域的反射率 物鏡對焦于被測物微小區域φ60μm； *cie顏色測定 x y色度圖，x，y，l,a,b飽和度，主波長等； *檢測速度快 高性能探測器，可在1秒內時間重現性高的測定； *消除背面反射光 *進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率。
技術參數
  
  型號	     bcspii      bcspiii
  檢測范圍	380~880nm	380~1100nm
  波長分辨率	1nm	1nm
  相對檢測誤差	﹤1%	﹤1%
  測定方法	與標準物比較測定
  被測物再現性	±0.1%以下(2σ) 380nm~410nm ±0.05%以下(2σ) (410nm~800nm)	±0.1%以下(2σ) 380nm~410nm ±0.05%以下(2σ) (410nm~1000nm)
  單次測量時間	﹤1s
  精度	0.3nm
  被測物n.a.	0.12(使用10×對物鏡時)0.24(使用20×對物鏡時)
  被測物尺寸	直徑>1mm厚度>1mm(使用10×對物鏡時)厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時)
  被測物測定范圍	約φ60μm(使用10×對物鏡時) 約φ30μm(使用20×對物鏡時)
  設備重量	約30kg光源外置
  設備尺寸	300(w)×550(d)×570(h)mm
  使用環境	水平且無振動的場所 溫度：23±5℃ 濕度：60％以下、無結露
  操作系統	windows xp, windows vista，win7
  軟件分光反射率、物體顏色、單層膜厚有干涉條紋和鍍膜有干涉條紋折射率測定