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    韓國MicroPioneer X射線鍍層測厚儀標準片/校正片、金屬薄片

  • 作者:深圳市錦致儀器儀表有限公司 2016-01-29 08:56 186
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    MicroPioneer X射線鍍層測厚儀標準片(X射線膜厚儀標準片) 、測厚儀校正片、薄片,韓國先鋒鍍層測厚儀標準片,XRF2000標準片,帶N.I.S.T證書,可通用于英國牛津CMI、德國Fischer、美國Thermo、日本Seiko等各種X射線測厚儀。
    標準片列表Standard Foil Stock List:
    Ag銀:0.28um,0.70um,1.00um,3.00um,5.00um,6.00um,12.00um
    Au金:0.04um,0.10um,0.20um,0.40um,0.50um,0.90um,1.20um,2.40um,5.30um
    Bi鉍:3.56um,6.24um
    Cr鉻:0.07um,0.10um,0.30um,0.50um,2.50um,3.70um,4.10um,5.00um,66.90um,7.80um,8.70um
    Cu銅:0.40um,1.00um,3.00um,5.40um,7.50um,10.00um,4.00um,17.00um,19.00um,30.00um,40.00um
    Ni鎳:0.50um,1.10um,2.30um,5.00um,11.00um,12.00um,14.30um,20.00um,23.00um
    Ni-P鎳磷:3.10um,6.40um,13.30um,17.00um
    Pb鉛:3.40um,3.80um,4.50um
    Pd鈀:0.05um,0.06um,0.20um,0.30um,0.60um,1.10um
    Pt鉑:0.10um,0.27um
    Rh銠:0.10um,0.40um
    Sn錫:0.30um,1.00um,3.0um,5.0um,6.0um,8.0um,10.0um
    Sn-Bi錫鉍:5.3um,8.3um,9.83um(96%Sn)
    Sn-Pb錫鉛:6.1um,11.34um,14.35um(Sn 94%)
    Zn鋅:2.0um,3.0um,5.0um,10.0um,20.0um
    Zn-Ni鋅鎳:3.66um,4.77um,7.49um,8.32um,11.02um(Zn 86%)
     
     韓國Micro Pioneer XRF 2000 X射線鍍層測厚儀/膜厚儀
    產品介紹
    X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質成分,可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。  
    XRF-2000 系列分為以下三種:  
    1. H-Type :密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約100mm以下。  
    2. L-Type : 密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約30mm以下。  
    3. PCB-Type : 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測 。   
    應用 : 
    測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可偵測元素的范圍: Ti(22)~U(92 )。   
    行業 : 
    五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業、電鍍類等。   
    特色 :
      非破壞,非接觸式檢測分析,快速精準。 
      可測量高達六層的鍍層 (五層厚度 + 底材 ) 并可同時分析多種元素。 
      相容Microsoft微軟作業系統之測量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報告 。 
      全系列獨特設計樣品與光徑自動對準系統。 
      標準配備: 溶液分析軟體 ,可以分析電鍍液成份與含量。 
    準直器口徑多種選擇,可根據樣品大小來選擇準值器的口徑。  
      移動方式:全系列全自動載臺電動控制,減少人為視差 。  
      獨特2D與3D或任意位置表面量測分析。 
      雷射對焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。 
    標準ROI軟體 搭配內建多種專業報告格式,亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告 。 
    光學2 0X 影像放大功能,更能精確對位。  
    單位選擇: mils 、 uin 、 mm 、 um 。 
      優於美製儀器的設計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的最佳優勢。  
      儀器正常使用保固期一年,強大的專業技術支援及良好的售后服務。 
      測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。 
     
    韓國Micro Pioneer還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號
    Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀
    是在XRF-2000系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質檢測的功能,
    其物點為:高分辨率,固態探測器;可分析超薄樣品
    分析有害物質,元素分析分之ppm - 100%,符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優化的應用;
    可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析;
    電鍍溶液分析;
    定性分析超過30種元素,能夠測量液體,固體,粉末,薄膜和不規則形狀;
    貴金屬元素含量和分析(金,銀,鉑,和珠寶);
    自動過濾器,多準直儀(五個準直器,從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺;
    性價比超強的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
    儀器尺寸:W610mm D670mm H490mm,重量:75Kg (net)                              
    可測量樣器大小:W550mm D550mm H30mm        
                  
    
    外形尺寸 : 30(mm) ;
    電源電壓 : 220(V) ;
    顯示方式 : 1 ;
    測量范圍 : 0.01(mm) ;
    型號 : 銅鎳金鉻鋅銀錫鉛 ;
    品牌 : Micro Pioneer ;
    類型 : 鍍層測厚儀 ;
    加工定制 : 是 ;
    

    深圳市錦致儀器儀表有限公司/深圳市錦賢科技有限公司是一家專業從事進口儀器儀表、機電設備代理、銷售及技術服務的有限責任公司,服務對象主要為廠礦、企事業單位、科研院所及大專院校。公司主要員工均為儀器儀表、機電設備行業資深人士,有著較為豐富的實際工作經驗,可以為廣大客戶提供專業的售前咨詢及優質的售后服務。 主要經營的儀器儀表: 韓國Micro Pioneer XRF-2000金屬鍍層測厚儀 日本KYORITSU共立水質離子測試包 德國MN水質測試條(紙)及測試盒 milum、英國牛津Oxford、INTRON線路板孔面銅測厚儀 美國EXTEC研磨 / 拋光器材及消耗品 美國WALCHEM(禾威)自動添加控制器 美國Kocour庫侖測厚儀(標準片)、侯氏槽、陰/陽極片、離心機等 美國DICKSON溫(濕)度記錄儀 美國CalMetics 及UPA和韓國MicroPioneer X-Ray金屬鍍層測厚儀標準片 美國SCS OMEGA 600SMD/Ionograph 500M SMD離子污染測試儀及耗材 TOCS臺笙銅箔分級測厚儀HC-09B及YK盈寬覆銅板分極測試儀THC-08B 新加坡QTEST CIMS 特性阻抗測試儀 美國S.E.(SEINTL)輻射檢測儀 美國DolanJenner光纖光源 日本IWAKI/意大利SEKO計量泵 美國ECI電鍍藥液分析系統 美亞板材厚度測試儀、銅箔剝離強度儀 蔚儀研磨/拋光器材及耗材
    
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