三豐表面粗糙度/輪廓測量儀 SV-C3100大幅提高的驅動速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進一步減少了總的測量時間。為了更長時間地保持直線度,三豐公司采用了**且較**的非常堅固的陶瓷導軌
詳細介紹
Formtracer(表面粗糙度/輪廓測量裝置)SV-C3100/SV-C4100
簡單介紹
三豐表面粗糙度/輪廓測量儀 SV-C3100大幅提高的驅動速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進一步減少了總的測量時間。
為了更長時間地保持直線度,三豐公司采用了**且較**的非常堅固的陶瓷導軌;驅動器 (X 軸) 和立柱 (Z2 軸) 均配備了高精度線形編碼器 (其中Z2 軸上為ABS 型)。因此,在垂直方向對小孔連續自動測量、對較難定位部件的重復測量的重復精度得以提高。
特長:
本機為電動型支柱,觸針式輪廓形狀、表面粗度量測兩用的復合機。
輪廓形狀量測用Z軸檢出器搭載Holographic光學尺(SV-C4100)、反射型光學尺(SV-C3100)。
表面粗度量測用Z軸檢出裝置,可對應ISO/新JIS。
檢出器的滑動部為2段式,可提升檢出器交換時的操作性。
資料處理軟體,可做高難度的輪廓形狀、粗度的評價解析。
資料處理裝置的通訊系統使用RS-232C。
表面粗糙度測量
直線度:±(0.05+0.001L)μm*專用于需要高精度測量的工件。
*S4型、H4型、W4型;L為驅動長度(mm)
符合JIS"82/"94/"01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的**標準。
標準配置:高精度測頭(0.75mN/4mN測力),分辨率高至0.0001μm。
自動測量
在與CNC機型配套使用的眾多外設選件的支持下,可實現自動測量。
輪廓驅動測量
X軸精度:±(0.8+0.01L)μm*Z1軸精度:±(0.8+I0.5HI/25)μm*專用于需要高精度測量的工件。
*SV-C4100S4型、H4型、W4型;L為驅動長度,H為測量高度(mm)
SV-C4100系列的輪廓驅動器配備了激光全息測微計測頭,Z1軸寬/窄范圍均能達到較高的精度和分辨率。
基本技術參數:
基座尺寸(WxH):750x600mm或1000x450mm
基座材料:花崗巖
重量
主機:140kg(S4),150kg(H4),220kg(W4)
140kg(S8),150kg(H8),220kg(W8)
控制器:14kg
遙控箱:0.9kg
電源:100–240VAC±10%,50/60Hz
能耗:400W(主機)
輪廓測量技術參數:
X軸
測量范圍:100mm或200mm
分辨率:0.05μm
檢測方法:反射型線性編碼器
驅動速度:80mm/s、外加手動
測量速度:0.02-5mm/s
移動方向:向前/向后
直線度:0.8μm/100mm,2μm/200mm
*以X軸為水平方向上
直線位移:±(1+0.01L)μm(SV-C3100S4,H4,W4)
精度(20°C時)±(0.8+0.01L)μm(SV-C4100S4,H4,W4)
±(1+0.02L)μm(SV-C3100S8,H8,W8)
±(0.8+0.02L)μm(SV-C4100S8,H8,W8)
*L為驅動長度(mm)
傾角范圍:±45°
Z2軸(立柱)
垂直移動:300mm或500mm
分辨率:1μm
檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器
驅動速度:0-20mm/s、外加手動
Z1軸(檢測器)
測量范圍:±25mm
分辨率:0.2μm(SV-C3100),
0.05μm(SV-C4100)
檢測方法:線性編碼器(SV-C3100),
激光全息測微計(SV-C4100)
直線位移:±(2+I4HI/100)μm(SV-C3100)
精度(20°C時)±(0.8+I0.5HI/25)μm(SV-C4100)
*H:基于水平位置的測量高度(mm)
測針上/下運作:弧形移動
測針方向:向上/向下
測力:30mN
跟蹤角度:向上:77°,向下:87°
(使用配置的標準測頭,依表面粗
糙度而定)
測針針尖尖端半徑:25μm、硬質合金尖端
表面粗糙度測量的技術參數:
X1軸
測量范圍:100mm或200mm
分辨率:0.05μm
檢測方法:線性編碼器
驅動速度:80mm/s
移動方向:向后
直線度:(0.05+1.5L/1000)μm(S4,H4,W4型)
0.5μm/200mm(S8,H8,W8型)
Z2軸(立柱)
垂直移動:300mm或500mm
分辨率:1μm
檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器
驅動速度:0-20mm/s、外加手動
檢測器
范圍/分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,
8μm/0.0001μm
(2400μm使用測頭選件)
檢測方法:無軌/有軌測量
測力:4mN或0.75mN(低測力型)
測針針尖:金剛石、90º/5μmR
(60º/2μmR:低測力型)
導頭曲率半徑:40mm
檢測方法:差動電感式
軟件選件
DUALTRACEPAK
測量裝置可自動運行,安裝了表面粗糙度驅動裝置后,表面粗糙度分析程序SURFPAK-SV自動啟動。同樣,安裝了輪廓驅動裝置后,形狀分析程序FORMPAK-1000也自動啟動。即使Formtracer已關閉,離線分析所需程序仍可從屏幕菜單中選出并運行。
ForMTRACEPAK
使用該軟件可以控制馬達驅動的Y軸工作臺和旋轉臺選件,從而實現自動測量。使用該軟件還可以進行輪廓評估,這項評估包括對級差,角度,深度,面積和其他基于表面粗糙度數據的特性進行分析。另外,還可以通過設置打印格式建立原始檢測證書,以適應不同的需求。
性能參數:
型號
SV-C3100S4
SV-C3100S4
SV-C3100H4
SV-C3100H4
SV-C3100W4
SV-C3100W4
貨號(mm)
525-421-1*
525-421-2*
525-422-1*
525-422-2*
525-423-1*
525-423-2*
貨號(inch)
525-431-1*
525-431-2*
525-432-1*
525-432-2*
525-433-1*
525-433-2*
型號
SV-C4100S4
SV-C4100S4
SV-C4100H4
SV-C4100H4
SV-C4100W4
SV-C4100W4
貨號(mm)
525-461-1*
525-461-2*
525-462-1*
525-462-2*
525-463-1*
525-463-2*
貨號(inch)
525-471-1*
525-471-2*
525-472-1*
525-472-2*
525-473-1*
525-473-2*
X1軸測量范圍
100mm
100mm
100mm
100mm
100mm
100mm
檢測器測力
0.75mN
4mN
0.75mN
4mN
0.75mN
4mN
垂直移動
300mm電動立柱
500mm電動立柱
500mm電動立柱
花崗巖基座尺寸(WxD)
610x450mm
610x450mm
1000x450mm
尺寸(主機、WxDxH)
996x575x966mm
996x575x1176mm
1396x575x1176mm
重量(主機)
140kg
150kg
220kg
型號
SV-C3100S8
SV-C3100S8
SV-C3100H8
SV-C3100H8
SV-C3100W8
SV-C3100W8
貨號(mm)
525-426-1*
525-426-2*
525-427-1*
525-427-2*
525-428-1*
525-428-2*
貨號(inch)
525-436-1*
525-436-2*
525-437-1*
525-437-2*
525-438-1*
525-438-2*
型號
SV-C3100S8
SV-C3100S8
SV-C3100H8
SV-C3100H8
SV-C3100W8
SV-C3100W8
貨號(mm)
525-466-1*
525-466-2*
525-467-1*
525-467-2*
525-468-1*
525-468-2*
貨號(inch)
525-476-1*
525-476-2*
525-477-1*
525-477-2*
525-478-1*
525-478-2*
X1軸測量范圍
200mm
200mm
200mm
200mm
200mm
200mm
檢測器測力
0.75mN
4mN
0.75mN
4mN
0.75mN
4mN
垂直移動
300mm電動立柱
500mm電動立柱
500mm電動立柱
花崗巖基座尺寸(WxD)
610x450mm
610x450mm
1000x450mm
尺寸(主機、WxDxH)
1005x575x966mm
1005x575x1176mm
1408x575x1176mm
重量(主機)
140kg
150kg
220kg
規格 : SV-C3000 ;
測量范圍 : 200mm ;
型號 : SV-C3100/4100 ;
** : Mitutoyo/三豐 ;
加工定制 : 否 ;