手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，當能量**原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子從而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的狀態，當較外層的電子躍遷到空穴時，產生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，光譜儀，發生俄歇效應，亦稱次級光電效應或*效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原子內吸收，手持式光譜儀廠家，而是以光子形式放出，便產生X射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，光譜儀廠家，射線熒光的能量或波長是特征性的，與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長，就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外，熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

? ? ??手持式光譜儀要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強度準確性和波長準確性以及強的抗外界干擾性和優良的儀器穩定性，在儀器的軟件上，要求能夠進行導數、去卷積等復雜的數學計算，能夠計算光譜間相似度、模式識別分析、支持多元校正分析和用戶自建譜庫并進行檢索。表征光譜儀基本特性的參量有光譜范圍、色散率、帶寬和分辨本領等。基于干涉原理設計的光譜儀（如法布里-珀羅干涉儀、傅立葉變換光譜儀）具有很高的色散率和分辨本領，常用于光譜精細結構的分析。

??????? X射線熒光光譜儀的主要組成部分是一次X射線源和樣品室、分光晶體和平行光管、檢測器和記錄顯示儀器(見圖)。一次X射線源用X光管，它產生的一次X射線轟擊樣品表面，使樣品激發出二次X射線。二次X射線經平行光管變成一束平行光以后，投射到與平行光束呈夾角 θ的分光晶體晶面上。射線在分光晶體面上的反射角與平行光束的夾角為2θ。分光晶體在分析過程中是回轉的，即θ是連續變化的，θ的變化會使反射光的波長隨之變化，故2θ的具體值是定性分析的依據。這種變化波長的反射線投射到與分光晶體聯動的檢測器上，檢測器便輸出一個與平面分光晶體反射線強度成比例的信號，熒光光譜儀價格，它是定量分析的依據。記錄顯示儀表的記錄紙移動的距離與2θ有關，所以記錄下來的曲線就是熒光光譜圖，其橫坐標是波長，縱坐標是光強。分析光譜圖就可以得到定性分析和定量分析結果。

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