<!-- .at_0{MARGIN: 0cm 0cm 0pt 13.5pt; TEXT-INDENT: -13.5pt; LINE-HEIGHT: 19pt; mso-char-indent-count: -1.5; mso-line-height-rule: exactly} .at_1{FONT-SIZE: 9pt; FONT-FAMILY: 新宋體} .at_2{FONT-SIZE: 9pt; FONT-FAMILY: 新宋體; mso-bidi-font-family: 宋體} .at_3{MARGIN: 0cm 0cm 0pt 54pt; TEXT-INDENT: -54pt; LINE-HEIGHT: 19pt; mso-char-indent-count: -6.0; mso-line-height-rule: exactly} --> 本公司為電路維修測試儀的**制造商,同時提供電路板**維修工具。本維修中心承接各類電路板維修業(yè)務,擁有經(jīng)驗豐富的維修工程師及**的維修測試工具,維修*,收費合理。真誠歡迎各界客戶光臨垂詢!公司還誠聘有維修經(jīng)驗的電路板維修工程師(專職/兼職)
電路維修測試儀主要測試功能:
★ 有包括TTL54/74系列、CMOS系列、DRIVER系列、集成運放、模擬開頭、比較器、光藕、西門子、俄羅斯、3.3V器件、M(ECL)等可測器件庫。
★可對全系列邏輯器件進行在/離線“直接功能”測試(ICFT)。
★對器件庫中有的/沒有的廣大器件進行“狀態(tài)分析”測試(
ICST)。
★可對任何元器件進行單/多端口“模擬特征曲線分析”測試
(ASA/VI)。
★高效率、高準確度模擬信號網(wǎng)絡測試。
★對運算放大器、三端元件(例:三極管、可控硅、場效應、光控
等)進行功能測試。
★ 對光藕合器件進行在線功能測試、離線功能測試及參數(shù)測試。
★對存儲器器件(SRAM/DRAM、PROM/EPROM)***測試、碼制
轉(zhuǎn)換。
★對40腳以下的LSI進行在/離線功能分析測試。
★給用戶提供“二次開發(fā)”高級測試平臺(TVDE),可對特殊板子
進行局部或整板測試。
★ 新增部分元器件的直流參數(shù)測試,不僅能測試器件功能好壞,而且能直接測試器件的參數(shù)指標,即可對元器件進行定性測試,也可進行定量測試。
★ 新增AD/DA轉(zhuǎn)換器件測試。
★ 重新編寫了測試程序,優(yōu)化了自適應技術(shù),使測試速度更快、準確率更高。