德國EPK    MiniTest2100 涂層測厚儀
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。
 	涂層測厚儀MiniTest1100

MiniTest涂層測厚儀功能 
型號	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存儲的數據量
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)	1	1	10	99
每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計，并可設寬容度極限值)	-	1	10	99
可用各自的日期和時間標識特性的組數	-	1	500	500
數據總量	1	10000	10000	10000
MINITEST統計計算功能
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar	-	√	√	√
讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
組統計值六種x,s,n,max,min,kvar	-	-	√	√
組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據	-	-	-	√
分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值	-	-	√	√
顯示并打印測量值、打印的日期和時間	-	√	√	√
其他功能
透過涂層進行校準(CTC)	-	√	√	√
在粗糙表面上作平均零校準	√	√	√	√
利用計算機進行基礎校準	√	√	√	√
補償一個常數(Offset)	-	-	√	√
外設的讀值傳輸存儲功能	-	√	√	√
保護并鎖定校準設置	√	√	√	√
更換電池是存儲數值	√	√	√	√
設置極限值	-	-	√	√
公英制轉換	√	√	√	√
連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別較大較小值	-	-	√	√
連續測量模式中測量穩定后顯示讀數	-	-	√	√
浮點和**方式數據傳送	√	√	√	√
組內單值延遲顯示	-	√	√	√
連續測量模式中顯示較小值	√	√	√	√
MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇較適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭	量程	低端
分辨率	誤差	較小曲率
半徑(凸/凹)	較小測量
區域直徑	較小基
體厚度	探頭尺寸
磁
感
應
法	F05	0-500μm	0.1μm	±(1%±0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
F10	0-10mm	5μm	±(1%±10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
F20	0-20mm	10μm	±(1%±10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
F50	0-50mm	10μm	±(3%±50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
兩
用
FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm
**0μm	φ15x62mm
FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面	30mm	F0.5mm
**0μm	φ21x89mm
FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm
**0μm	φ15x62mm
電
渦
流
法	N02	0-200μm	0.1μm	±(1%±0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%±1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
N10	0-10mm	10μm	±(1%±25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
N20	0-20mm	10μm	±(1%±50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
N100	0-100mm	100μm	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面	7mm	無限制	φ17x80mm
注：	F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
MiniTest涂層測厚儀探頭圖示
 	FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

	FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度


	F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

	F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)

	F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層

	F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

	F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等


	F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 

	F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

	N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

	N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的較薄鍍鉻層

	N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

	N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

	N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

	N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

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