Park XE7
創(chuàng)新研究的經(jīng)濟(jì)之選
1、**的高性能:
在同級產(chǎn)品中,Park XE7能夠帶來較高納米級分辨率的測量效果。得益于*特的原子力顯微鏡架構(gòu),即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器,XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測量,從而精確成像和測量樣品的特征。此外,Park所*有的True Non-Contact?模式還能為您帶來**的圖像效果,探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。
2、滿足當(dāng)前和未來需求:
在Park XE7的幫助下,現(xiàn)在與未來皆在您的掌控中。Park XE7帶有業(yè)內(nèi)較全面的測量模式。這些模式不僅能滿足您目前的需求,也考慮到未來不斷變化的需求。再者,XE7具有市場上較為開放性的設(shè)計,允許您整合其他附件和儀器,從而滿足您特殊的研究需求。
3、易于使用和高生產(chǎn)率:
Park XE7擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具,即便是初學(xué)者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預(yù)準(zhǔn)直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準(zhǔn)直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理,XE7能夠全力推動研究效率的提高。。
4、經(jīng)濟(jì)實惠追趕了系統(tǒng)成本:
Park XE7不僅僅是較高性價比的研究級原子力顯微鏡,也是使用成本較低的原子力顯微鏡。Park XE7中所搭載的True Non-Contact?模式讓用戶*頻繁更換昂貴的探針尖端,并且它配有業(yè)內(nèi)較多的掃描模式,兼容性較佳,讓您可隨時升級系統(tǒng)功能,從而延長產(chǎn)品的使用壽命。Park XE7配有Park Systems的所有良好技術(shù),而且價格十分親民。XE7在細(xì)節(jié)的設(shè)計上也相當(dāng)用心,是幫助您準(zhǔn)確且不**預(yù)算地完成研究的理想之選。
* 技術(shù)參數(shù)
XY掃描器:
閉環(huán)控制式單模塊柔性XY掃描器。
掃描范圍: 50 μm × 50 μm (可選 100 μm×100 μm, 10 μm×10 μm )
Z掃描器:
柔性引導(dǎo)高力度掃描器
掃描范圍: 12 μm (可選 25 μm)
樣品臺:
XY臺工作范圍: 13 × 13 mm
Z臺工作范圍: 29.5 mm
聚焦臺工作范圍: 70 mm
光學(xué)系統(tǒng):
可觀察樣品和探針的直視同軸光學(xué)系統(tǒng)
10X 物鏡 (可選20X)
視場: 480 × 360 μm
CCD: 1M像素(像素分辨率: 0.4 μm)
電路系統(tǒng):
高性能DSP : 600 MHz with 4800 MIPS
較大圖像尺寸: 4096 x 4096像素, 16個數(shù)據(jù)圖像
信號輸入: 在500kHz取樣時, 16位ADC的20個通道
信號輸出: 在500kHz取樣時, 16位ADC的21個通道
同步信號 :圖像結(jié)束, 線結(jié)束及像素結(jié)束TTL信號
主動Q控制(選配)
懸臂梁彈性常數(shù)校準(zhǔn)(選配)
CE Compliant
電源 : 120 W
信號處理模塊 (選配)
產(chǎn)品參數(shù):
儀器種類: 原子力顯微鏡
樣品臺移動范圍: 13mm*13mm
樣品尺寸: 直徑≤100mm, 厚度≤20mm
定位檢測噪聲: Z≤0.03(typical) 0.05(maximum)
產(chǎn)地類別: 進(jìn)口儀器