系統(tǒng)參數(shù)對檢測性能的影響

激勵線圈尺寸

實驗中采用兩個大小不同的矩形激勵線圈進行分析。實驗證明，無論對于表面缺陷還是表面下缺陷的檢測，使用小的激勵線圈均比使用大的激勵線圈渦流響應信號峰值變化量大，也就是說小線圈比大線圈的靈敏度高。

激勵脈沖頻率的影響

在進行脈沖頻率的對比實驗時，根據(jù)實驗分析結(jié)果，選用具有較高靈敏度的小線圈作為激勵線圈，脈沖的占空比定為0.5，電壓為10V，頻率從100Hz變化到1kHz，步進量為100Hz。

從實驗結(jié)果中可以得出，當激勵頻率從100Hz變化到400Hz的過程中，對于表面缺陷和表面下缺陷，隨著激勵頻率的增加，渦流響應信號峰值的變化量開始明顯增大。這是由于對表面缺陷來說，隨著頻率的增加，脈沖渦流檢測能力變強;而對于表面下缺陷是由于實驗中采用的缺陷深度較小的緣故。

激勵脈沖占空比的影響

在進行占空比實驗時，選用具有較高靈敏度的小線圈作為激勵線圈，其它參數(shù)設置如下：激勵脈沖頻率為100Hz，電壓為10V，占空比從0.1均勻變化到0.9，每次步進0.1。
對脈沖進行傅里葉分析可以知道，小占空比的脈沖頻譜的能量分布比較均勻，因此，在高頻時也具有較高的能量，這對于表面缺陷的檢測有利。而占空比較大的脈沖其頻譜的能量主要集中在低頻處，這對于表面下深層缺陷的檢測有利。

激勵脈沖電壓的影響

在進行激勵電壓實驗時，選用尺寸較小的激勵線圈。激勵脈沖的頻率為100Hz,占空比為0.5，激勵電壓從5～10V均勻變化。
從實驗結(jié)果可以看出，隨著激勵脈沖電壓的升高，不管對于表面缺陷或表面下缺陷，峰值的變化量逐漸變大，這是由于激勵電壓升高后，脈沖渦流檢測系統(tǒng)產(chǎn)生的磁場強度回變大，因此有利于缺陷的檢出，但是，在實際檢測過程中，激勵電流不能太大，否則線圈容易達到飽和狀態(tài)。

渦流陣列探頭

 

當今有各個種不同特性的渦流陣列探頭。ECA探頭的運行模式，如**于式（absolute）、差動式（differential）與反射式（reflection），都是依據(jù)單個線圈或傳感器的配置來確定的。應用程序的類型決定了應該如何進行適當?shù)呐渲谩CA探頭同樣是依據(jù)這個工作頻率、線圈尺寸、線圈數(shù)量、分辨率與覆蓋范圍來確定的。

 

硬性線圈ECA探頭是扁平的，或是依據(jù)檢測工件的幾何形狀而定制形狀的。由于這些硬性線圈傳感器可能需要不同的靈敏度，因為此在制造過程中必須研究選擇匹配的線圈。

 

一種基于PCB薄膜制成的柔性ECA探頭較近同樣得到了發(fā)展與應用。在檢測期間，這些探頭能夠適應組件不同的幾何形狀，或者直接安裝在適合某些形狀或曲率的固定器上。因為為這些傳感器都置于PCB薄膜中，因為此它們的靈敏度是相同的。
 

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