碳化硅器件測試

主要技術(shù)參數(shù)：IGBT開關(guān)特性測試
開關(guān)時間測試條件
Ic：50A～1000A     Vce：200V～2000V
Vgs：-10V～＋20V  Rg：1R～100R可調(diào)(可選擇4檔及外接)
負載：感性負載阻性負載可切換
電感范圍：100uH，200uH，500uH，1000uH
電阻范圍：0.5R、1R、2R、4R
IGBT開關(guān)特性測試參數(shù)
開通延遲td(on): 20nS -10uS      
上升時間tr:    20nS -10uS
開通能量Eon：  0.1-1000mJ                 
關(guān)斷延遲時間td(off)：20 nS -10uS   
下降時間 tf： 20nS -10uS                    
關(guān)斷能量Eoff：0.1-1000mJ
二極管反向恢復(fù)特性測試
FRD測試條件：正向電流IF：50A～1000A                                                                                                                                 反向電壓 Vr：200V~2000V；-di/dt：100A/us～10000A/us   ；負載：感性負載可選
電感范圍：100uH，200uH，500uH，1000uH
FRD測試參數(shù)
反向恢復(fù)時間trr：20nS -2uS ；反向恢復(fù)電荷Qc：10nC~10uC；反向恢復(fù)電流Irm：50A~1000A反向恢復(fù)損耗  Erec：0.1mJ～1000mJ國內(nèi)唯 一能對二極管、IGBT模塊、MOS管等器件的時間參數(shù)實施測試的設(shè)備。

碳化硅器件測試

陜西開爾文測控技術(shù)有限公司成立于2012年，位于西安市高新區(qū)新型工業(yè)園發(fā)展大道26號，注冊資金670萬，是國內(nèi)***大功率新型半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng)及測試技術(shù)服務(wù)的高新企業(yè)單位，致力于新型器件（SiC,GaN等）材料分析、元器件檢測、可靠性評測、系統(tǒng)功能驗證等服務(wù)。目前，測試系統(tǒng)及測試技術(shù)服務(wù)以深入國內(nèi)大專院校、航天、航空、兵器、中船、電子行業(yè)等，尤其是電力設(shè)備、電動汽車、軌道交通領(lǐng)域的動力車組和運用大功率半導(dǎo)體器件進行設(shè)計、制造等行業(yè)，得到了廣泛的應(yīng)用，以產(chǎn)品性價比高、可測器件種類多且參數(shù)齊全、測試精度高、速度快、保護性強、故障率低、軟件豐富、操作使用方便、售后服務(wù)及時周到。同時還承擔(dān)著同類進口產(chǎn)品的售后維修服務(wù)。公司自成立以來，以我們的技術(shù)強項和**產(chǎn)品的實力，獲得了7項軟件著作權(quán)登記證書、11項實用新型**，通過了陜西省民營科技企業(yè)認證、西安市民營科技企業(yè)認證、獲得了技術(shù)貿(mào)易資格認證、通過了ISO14001環(huán)境管理體系認證、OHSAS18001職業(yè)健康安全管理體系認證、ISO9001質(zhì)量管理體系認證，通過了陜西省高新企業(yè)認證，并在2016年，以《高速特大功率半導(dǎo)體器件IGBT測試系統(tǒng)》列入陜西省科技廳戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)重大產(chǎn)品項目，項目編號2016KTCQ01-31。