視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統詳情: 奧普特TM系列視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統適用于半導體晶圓(Wafer)工藝的質量控制。該視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統提供晶圓(Wafers)表面的**并準確的接觸角/表面能分析,從而評估粘性,潔凈度及鍍膜。 奧普特TM系列視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統采用輕量化的設計、組裝方便和較新的基于Windows?標準的用戶友好型軟件,以創建一個即**容又*使用的接觸角測量儀系統。 視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統的注射滴液機制可以抬起便于裝載,*了對晶圓(Wafers)可能產生的損壞。視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統用于晶圓表面分析,同時也可用于其它需要測量較大體積樣件的分析應用。樣件較大可允許 300 X 300 X 19mm。 ? 奧普特TM系列視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統應用 (包括但不限于): ? HMDS工藝的表面涂覆評估; ? 表面污染物檢測; ? 膠液&底漆制備; ? 涂覆均勻性檢測; ? 涂覆質量評估; ? 表面清潔度檢測; ? 研究粘附性、潤濕特性、粘接質量、表面處理和纖維、織物、聚合物、半導體晶片、硬盤、 平板顯示器和生物材料等表面涂層。 ? 吸收研究。 奧普特TM系列視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統采用了高精度攝像鏡頭和**的PC技術捕捉滴液的靜態或動態圖像,并確定用于觸角測量的基礎切線。手動或自動注射器提供測試液體的簡易滴膠方式。 電腦化操作*了人為錯誤的畫線并能捕捉動態圖像對時間敏感的分析。存儲在計算機中的數據和圖像用于后面的分析,并且*轉移到其他應用軟件上。 視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統主要技術規格; 基本系統; ? 視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統是一款手動操作的接觸角測量儀系統,可測量晶圓片(Wafers)較大尺寸為300mm。動態圖像捕捉速率為60幀/秒,視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統除了具備表面能分析功能以外,該系統還能實現滴液表面張力的分析。該接觸角測量儀系統配備電動、可編程注射滴膠系統。視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統也可在**凈間操作使用。 ? 高分辨率攝像系統,放大透鏡,高密度LED光源用于精密圖像捕捉 ? 300mm可旋轉工作平臺,允許檢測晶圓各個方位 ? 高配PC控制系統,配備高性能顯卡,用于高級圖像分析及視頻捕捉 ? 高清平板顯示器,用于圖像輸出顯示 視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統軟件基本功能特性; ? 接觸角成像及計算的自動化 ? 動態滴液捕捉(以錄像方式觀看滴液) ? 表面能(達因/厘米)分析功能 ? 統計過程控制 ? 懸滴法表面分析功能 SE-2500表面能(達因/厘米)軟件包; 基于同樣基片上不同液體的接觸角,計算基片的表面能(達因/厘米),列表出同一基片上不同液體的接觸角。并且用四中用戶可選的方法之一來自動計算表面能,即齊斯曼法(Zisman)、幾何平均數法(*metric Mean,), 調和平均數法(Harmonic Mean,),酸堿法(Acid-Base)。 圖像分析工作站(IAW); 專門配備PC格式化用于圖像分析。 Dynamic-2500軟件; ? 基于Windows操作系統方便使用,增強的多功能性和易與其他程序接口; ? 時間間隔的圖像捕捉能力提供圖像捕捉及分析,基于用戶定義的時間事件分析間隔; ? 多個圖像同事瀏覽功能; ? 圖像滾動&堆碼能力; ? 高速圖像捕捉可達60個圖像/秒; AutoFAST成像軟件; 自動灰度分析成像系統捕捉實際液滴圖像和自動計算接觸角,而*人工干預。 接觸角切線和電腦生成的水滴形曲線 擬合同時顯示在視頻圖像上,便于用戶查看及分析。 PDAST(滴液表面張力分析)軟件; 采取垂滴圖像分析方法,通過視頻影像數字化和數字 曲線擬合,采用毛細拉普拉斯方程確定表面張力(或界面張力)。 微量注射器-三套 微量注射器針頭-五套 SPC(統計過程控制)軟件; 在一個易于使用的圖表中自動記錄接觸角、液滴的高度,寬度,體積和面積。 即時顯示統計值平均值和標準偏差,作為數據輸入。所有的數據都可被打印, 保存和/或轉出進一步分析或成像在其他 軟件程序之中。 DataView軟件; 瀏覽接觸角度、寬度和高度,潤濕面積和體積的彩色圖表。數據和圖表可以存儲、打印和編輯。 電動注射器組件; 電腦控制自動滴液分配系統,用于標準注射器。提供可重復用戶定義液體體積分配。 視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統晶圓(Wafer)樣件工作平臺; ? 圓形樣件平臺尺寸:直徑12英寸(304.80毫米); ? 可接納檢測晶圓片尺寸:4英寸、6英寸、8英寸及12英寸; ? 光軸移動:6英寸手動滑動卡鎖; ? 垂直于光軸運動:6英寸撥動; ? 垂直移動距離:2英寸波動; ? 工作平臺旋轉角度:360度旋轉,行星軸承支持手動旋轉; 校準網格 顯示器 電源220VAC 售后服務: ? 視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統抵達客戶處后,產品工程師**指導設備現場完成安裝調試; ? 設備質保期兩年; 若對視頻成像(VCA-Wafer) 晶圓表面分析檢測測量系統感興趣,請向我們索取更詳細資料。 通羅馬科技(北京)有限公司 (材料科學部) 電話:010-57130073 139 1004 6648 傳真:010-58144085 QQ:70609221 電郵:sale@ 網址: 微博/733085677
